X射线镀层测厚仪XDLM231/237

描述：品牌：菲希尔型号：XDLM231/237样品高度：140mm

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详细内容/ Product Details

可用于测量所有金属镀层的厚度以及多镀层或者合金成分分析，也可以进行电解溶液含量成份分析，带有国家豁免证书，无放射源设计，安全环保。主要用于微小结构的印刷线路板、电气元件及大规模生产的零部件上的镀层测量、分析。

1、测量大规模生产的电镀零部件；

2、测量微小区域上的薄镀层；

3、测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层；

4、全自动测量，如测量印刷线路板。

型号项目		XDLM-231	XDLM-237
通用规格	设计用途	能量色散X射线荧光光谱仪 (EDXRF) ，测量薄镀层和微小结构样品，分析合金组分
	元素范围	从元素氯 (17) 到铀 (92)，最多可以同时测定24种元素
工作台	平台	固定式样品平台	马达驱动可编程X/Y平台
	可用样品平台	463mm x 500mm	300mm x 350mm
	X/Y平台移动距离	/	255mm x 235mm
	X/Y平台移动速度	/	≤80mm/s
	X/Y平台移动重复精度	/	≤0.01mm（单向）
	样品重量	20kg	5kg，降低精度可达20kg
	样品高度	140mm
电气参数	电原要求	AC 220V 50HZ
	功耗	120W（测量头，不包括计算机）
	保护等级	IP40
环境要求	使用温度	10℃-40℃
	存储或运输时温度	0℃-50℃
	空气相对湿度	≤95%，不结露
计算单元	计算机	Windows®-PC
	软件	标准：Fischer WinFTM® BASIC 可选：Fischer WinFTM® PDM®，SUPER
尺寸规格	外部尺寸	570mm×760mm×650mm
	内部测量舱尺寸	460mm x 495mm x146mm
重量		100kg		120kg

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